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      當(dāng)前位置:首頁(yè)  /  產(chǎn)品中心  /  其他專(zhuān)用儀器  /  測(cè)定儀  /  HAD-HT01激光測(cè)距儀

      激光測(cè)距儀

      產(chǎn)品簡(jiǎn)介

      激光測(cè)距儀 型號(hào):HAD-HT01本安型紅外線(xiàn)測(cè)距儀:
      測(cè)量度 ±2mm
      測(cè)量范圍 0.05M --- 200M
      .測(cè)量范圍為0.05至200m,度為±2mm
      .遠(yuǎn)距離測(cè)距100m無(wú)須使用反射板
      .屏幕照明燈顯示、屏幕圖形顯示
      .前端測(cè)量或底測(cè)量選擇、延遲測(cè)量
      .持續(xù)測(cè)量
      .防水、防塵
      有煤安認(rèn)證
      有防認(rèn)證

      產(chǎn)品型號(hào):HAD-HT01
      更新時(shí)間:2025-01-14
      廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
      訪(fǎng)問(wèn)量:723

      產(chǎn)品分類(lèi)

      PRODUCT CLASSIFICATION
      詳細(xì)介紹
      品牌其他品牌產(chǎn)地類(lèi)別國(guó)產(chǎn)
      應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車(chē)及零部件,電氣

      本安型紅外線(xiàn)測(cè)距儀 礦用激光測(cè)距儀 激光測(cè)距儀 型號(hào):HAD-HT01

      本安型紅外線(xiàn)測(cè)距儀:
      測(cè)量度 ±2mm
      測(cè)量范圍 0.05M --- 200M
      .測(cè)量范圍為0.05至200m,度為±2mm
      .遠(yuǎn)距離測(cè)距100m無(wú)須使用反射板
      .屏幕照明燈顯示、屏幕圖形顯示
      .前端測(cè)量或底測(cè)量選擇、延遲測(cè)量
      .持續(xù)測(cè)量
      .防水、防塵
      有煤安認(rèn)證













      2.無(wú)線(xiàn)高壓電流互感器變比測(cè)試儀 型號(hào):HAD-9500

      產(chǎn)品特點(diǎn)

      測(cè)量:高低壓電流互感器一二次回路的電流、變比、比差、角差、相別、極性、漏電流在線(xiàn)測(cè)試監(jiān)控;變壓器兩側(cè)電流大小、變比在線(xiàn)測(cè)試監(jiān)控;高空電流、漏電流測(cè)試;一二次回路核相、相序判斷功能。

      無(wú)線(xiàn)高壓變比測(cè)試儀突破傳統(tǒng)結(jié)構(gòu),專(zhuān)為測(cè)量高低壓一二次回路的電流、變比、漏電流而精心設(shè)計(jì)制造的,采用新CT技術(shù)及掩膜數(shù)字集成技術(shù),由專(zhuān)用高壓檢測(cè)儀、低壓電流鉗、主機(jī)、高壓絕緣桿、監(jiān)控軟件等組成,其無(wú)線(xiàn)傳送測(cè)試數(shù)據(jù)能穿透多層樓房障礙,直線(xiàn)傳輸距離達(dá)300米。若不使用絕緣桿,還可以當(dāng)作高精度低壓鉗形電流表、漏電流表使用,能準(zhǔn)確測(cè)出0.01mA~1000A的電流或漏電流。 

       

       

       

      3.活性炭粒度測(cè)定儀/活性炭粒度測(cè)試儀/活性碳粒度檢測(cè)儀?? 型號(hào):HAD-LD3

      主要部件及主要參數(shù):

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      測(cè)顆粒粒度測(cè)定儀的主要部件及參數(shù)

      l???????? 轉(zhuǎn)速:150±2r/min

      轉(zhuǎn)軸偏心距:20?±1mm

      2.定時(shí)器

      3.電壓:220V??? 功率:0.5KW

       

       

       

       

      4.手持式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-3

      概述
      HAD-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
      儀器成套組成:由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測(cè)試臺(tái)。
      儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿(mǎn)度自校功能;手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用!
      探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專(zhuān)用探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
      詳見(jiàn)《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
      儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
      儀器適用于半導(dǎo)體材料廠(chǎng)、器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
      三、基本技術(shù)參數(shù)
      1. 測(cè)量范圍、分辨率
      ??? 阻:???? 0.010 ~ 50.00kΩ,???? 分辨率0.001 ~ 10 Ω
      率:???? 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD
      方塊電阻:???? 0.050~ 100.00kΩ/□?? 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
      2. 可測(cè)材料尺寸
      手持方式不限材料尺寸,但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下:
      ??? 徑:HADT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130HADHAD。
      HADT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180HADHAD×180HADHAD。
      長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100HADHAD。.
      測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.

       

       

       

       

      5.多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀/臺(tái)式四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HAD-2258C

      概述
      HAD-2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰B/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
      儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。
      主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入;具有零位、滿(mǎn)度自校功能;電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)功能,最大分類(lèi)10類(lèi)。
      探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類(lèi)半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專(zhuān)用探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
      測(cè)試臺(tái)選配:一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測(cè)試臺(tái)。二探針?lè)y(cè)試電阻率測(cè)試選HAD-T-K型測(cè)試臺(tái),也可選配HAD-T-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率,選配HAD-T-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》
      儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
      儀器適用于半導(dǎo)體材料廠(chǎng)器件廠(chǎng)、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
      三、基本技術(shù)參數(shù)
      1. 測(cè)量范圍、分辨率(括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級(jí))
      ??? 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103? Ω
      ???????? (1.0×10-6 ~ 20.00×103? Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
      率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103? Ω-cm
      ???????? (1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
      方塊電阻:50.0×10-6 ~ 900.0×103 Ω/□??? 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103? Ω/□
      ???????? (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□? 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103? Ω/□)
      2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定)
      ??? 徑: HAD-T-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
      HAD-T-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,手持方式不限.
      長(zhǎng)(高)度:? 測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,??? 手持方式不限.
      測(cè)量方位:? 軸向、徑向均可

      以上參數(shù)資料與圖片相對(duì)應(yīng)


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