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      電容電壓(C-V)性測試儀原理

      更新時間:2020-08-03點擊次數:2394

      電容電壓(C-V)性測試儀是測試頻率為1MHz的數字式電容測試儀器。用于測量半導體器件PN結勢壘在不同偏壓下的電容量,也可測試其它電容。
      儀器有較的分辨率,電容量是四位讀數,可分辨到0.001pF,偏置電壓分辨率為0.01V,漏電小分辨率為0.01μA或0.1μA(可選)。
      該測試儀器性能穩定可靠,能齊,度,操作簡單,適用于元件廠家,科研,等院校等單位。
      2. 原理
      CV法利用PN結或肖基勢壘在反向偏壓時的電容性,可以獲得材料中雜質濃度及其分布的信息,這類測量成為C-V測量。這種測量可以提供材料橫截面均勻性及縱向雜質濃度的分布信息。
      組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應(勢壘電容),加正向偏壓時,PN結勢壘區變窄,勢壘電容變大;加反向偏壓時,PN結勢壘區變寬,勢壘電容變小。
      該儀器采用電電壓測量方法,它用微處理器通過8 次電壓測量來計算每次測量后要求的參數值。用個相敏檢波器和模數轉換器順序快速成電壓測量。正交測量通過交換測量信號的相位來行,而不是參考相位檢測。因而不需要的模擬相位轉換成電壓矩形波電路。通過從同個頻信號源形成測試信號和參考信號,來保證正確的相位關系。由微處理器根據已知的頻率和測試信號相位,用ROM 存儲器內的程序和所存儲的按鍵選擇來控制測量順序,以及存儲在RAM 中的校準數據來計算被測元件數值。

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